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面向细间距高密度异构应用的芯片至晶圆混合键合工艺综合研究
首页 >半导体设备资料 >先进封装:固晶-焊线-TCB-HB 2024-01-31 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持! [上传图纸即可免费下载] 觉得本站不错记得分享给好友哦! 0
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图纸预览图
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资料描述

在高性能计算与3D异构集成引领下,凸点间距向12µm及以下演进。我们来深度解读关于芯片至晶圆(C2W)混合键合的全套工艺路线与核心挑战。